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使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內性能參數分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

直流電流-電壓(I-V)

范圍：10 aA - 1A，0.2 µV - 210 V

電容-電壓：(C-V) 范圍，1 kHz - 10 MHz，± 30V 直流偏置

脈沖 ：I-V
范圍：±40 V (80 V p-p)，±800 mA，200 MSa/s，5 ns 采樣率 

參數查看，快速清晰。

大膽發(fā)現從未如此容易。 4200A-SCS 參數分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界***創(chuàng)）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

特點

· 內置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

· 使用數百個用戶可修改應用測試開始您的測試

· 自動實時參數提取、數據繪圖、算數函數

測量、 切換、 重復。

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現意想不到的結果時輕松排除故障。

特點

· 無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

· 用戶可配置低電流功能

· 個性化輸出通道名稱

· 查看實時測試狀態(tài)

檢定、 自定義、 化。

簡單地說，4200A-SCS 可以完全自定義且全面升***，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片***可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

特點

· NBTI/PBTI 測試

· 隨機電報噪聲

· 非易失內存設備

· 穩(wěn)壓器應用測試

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案。

4200A-SCS 參數分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

特點

· “點擊”測試定序

· “手動”探測器模式測試探測器功能

· 假探測器模式無需移除命令即可實現調試

降低成本并保護您的投資

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